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浙江大学学报(理学版)  2006, Vol. 33 Issue (1): 52-    
电子科学     
门级电路自动测试向量生成技术原理
Principles of gated circuit automation test pattern generation
 全文: PDF(397 KB)   HTML (
摘要: 集成电路的飞速发展使得测试的难度不断增加,而ATPG技术在测试向量产生方面具有重要的意义,本文对该技术的发展及其所采用的方法进行了系统地介绍和分析.针对门级的组合电路和时序电路的ATPG方法具有许多相似之处,但也同时存在各自的特点,在文中,对这两类电路的方法进行了仔细的比较、区分.
出版日期: 2006-01-01
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刘观生
葛海通
陈偕雄

引用本文:

刘观生, 葛海通, 陈偕雄. 门级电路自动测试向量生成技术原理[J]. 浙江大学学报(理学版), 2006, 33(1): 52-.

LIU Guan-Sheng, GE Hai-Tong, CHEN Xie-Xiong. Principles of gated circuit automation test pattern generation. Journal of ZheJIang University(Science Edition), 2006, 33(1): 52-.

链接本文:

http://www.zjujournals.com/xueshu/sci/CN/        http://www.zjujournals.com/xueshu/sci/CN/Y2006/V33/I1/52

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