按栏目浏览

光学工程 栏目所有文章列表
(按年度、期号倒序)
    一年内发表的文章 |  两年内 |  三年内 |  全部
Please wait a minute...
1. 基于特征剪裁的AdaBoost算法及在人脸检测中的应用
孟子博, 姜虹, 陈婧, 袁波, 王立强
J4    2013, 47 (5): 906-911.   DOI: 10.3785/j.issn.1008-973X.2013.05.025
摘要  

针对AdaBoost算法存在训练消耗大并且误检率较高的问题,提出一种基于AdaBoost的高效检测方法.它主要包含一种基于特征剪裁的AdaBoost算法(FPAdaBoost)和一种新的检测扫描方法——确认和跳过检测机制(CSDS).FPAdaBoost算法在每一轮训练中会根据分类误差剪裁掉一部分特征,提高算法的训练速度;而CSDS检测方法在传统的检测方法基础上引入验证和确认机制,在保证检测率的条件下有效控制误检的发生.在MIT CBCL训练集和MIT+CMU检测集上对提出的方法进行验证,结果表明,FPAdaBoost算法相比原始AdaBoost算法在性能上没有明显退化,但却大大改善了训练速度,同时CSDS检测机制的引入极大地降低误检率,提高检测结果的可靠性.

2. 球面干涉检测中改进的调整误差校正方法
王道档, 杨甬英, 邵卫红, 陈晓钰
J4    2012, 46 (10): 1932-1936.   DOI: 10.3785/j.issn.1008-973X.2012.10.028
摘要  

根据球面干涉检测中待测球面调整误差的高阶近似模型,提出新的基于泽尼克多项式拟合的球面调整误差校正方法.该方法根据测得原始面形数据的泽尼克多项式系数以及待测面数值孔径,得到调整误差所引入的低阶和高阶像差量,实现高精度球面调整误差校正.通过Zygo干涉仪及大数值孔径待测球面对提出的校正方法进行实验验证,校正精度达到了均方根值近0.001λ、峰谷值0.011λ.实验结果表明,该方法可以实现很高的球面调整误差校正,无需了解实际调整误差量,便于自动化处理,可以降低检测装置中对待测面调节机构精度的要求.

3. 基于线阵CCD的大视场二维平面定位系统
彭超然, 郑臻荣, 李海峰, 刘旭
J4    2011, 45 (8): 1475-1479.   DOI: 10.3785/j.issn.1008-973X.2011.08.025
摘要  

为了克服当前交互式电子白板系统技术复杂、定位精度低等缺点,提出一种基于线阵电荷耦合器件(CCD)的大视场二维平面定位系统,该系统由待定位物体、CCD摄像装置和信号处理电路组成.CCD获取待定位物体的信息送入信号处理电路处理,通过坐标变换快速校正CCD光学系统引起的畸变,得到待定位物体的位置.系统定位距离为1 360 mm,二维定位平面大小为1 574 mm×1 260 mm,定位误差小于2 mm,定位精度高于0.2%.搭建了相应的大视场二维平面定位系统.实验结果表明,该系统可实现大角度非接触式二维物体的精确动态定位.

4. SPR检测器在流动分析系统的应用
陈惠滨, 王晓萍, 吴宏伟, 朱岩, 郦雅平
J4    2011, 45 (8): 1480-1484.   DOI: 10.3785/j.issn.1008-973X.2011.08.026
摘要  

为实现通用性强、样品消耗小、成本低新型检测器的开发,设计一种应用于流动分析体系的表面等离子共振(SPR)检测器.以3种糖的标准溶液为样品,开展检测器性能指标测试,得到相对标准偏差(RSD)值在1.3%以下,D木糖、蔗糖、葡萄糖的检测下限分别为92、123、132 ng,在最低检测限至10 000 mg/L的检测范围内,线性拟合相关系数大于0.999.将SPR检测器作为液相色谱系统的检测器,测得分离后标准样品RSD值在2.3%以下,蔗糖和半乳糖的检测下限分别为6、9 μg.结果表明,SPR检测器对于紫外检测或荧光检测不敏感,或者需要通过衍生化才可进行测量的成分,具有优势.

5. 椭偏参数测量误差对薄膜参数测试精度的影响
林远芳, 黄强盛, 茹启田, 孙硕, 郑晓东
J4    2011, 45 (8): 1485-1489.   DOI: 10.3785/j.issn.1008-973X.2011.08.027
摘要  

为了分析透明均匀介质膜的椭偏方程中所隐含的椭偏参数和薄膜参数(膜厚、折射率)之间的误差关系,提出基于误差传递公式和反函数组定理,通过求出椭偏参数对薄膜参数的偏导在名义膜厚和名义折射率处的值来反求后者对前者的偏导值,进而绘出不同入射角下膜厚和折射率误差与椭偏参数测量误差之间的关系曲线的方法.该法所得结果表明,椭偏参数测量误差导致的膜厚误差和折射率误差并非在同一入射角下达到最小;它们最小时所分别对应的最佳入射角随着入射光波长、薄膜名义膜厚、名义折射率和基片折射率变化而变化;若以各自最佳入射角时所对应测得的膜厚和折射率作为薄膜参数测试值,则能有效提高测量精度.该结论与在激光椭偏仪上的实际测量结果相符.文中方法对分析其他超越方程中多个变量之间的误差关系以及各变量值的优化选取有一定参考价值.

首页 | 前页| 后页 | 尾页 第1页 共1页 共5条记录